透射電鏡測(cè)試

透射電鏡測(cè)試 測(cè)試介紹
透射電子顯微鏡(縮寫TEM),簡(jiǎn)稱透射電鏡,是把經(jīng)加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上,電子與樣品中的原子碰撞而改變方向,從而產(chǎn)生立體角 散射。
透射電子顯微鏡的基本工作原理是利用電子束穿透物質(zhì),根據(jù)物質(zhì)對(duì)電子束的散射和透射情況,結(jié)合樣品的化學(xué)成分和結(jié)構(gòu)特點(diǎn),生成可以被人類觀察的圖像。中科檢測(cè)具備透射電鏡測(cè)試資質(zhì)能力,可以出具CMA、CNAS檢測(cè)報(bào)告。
透射電鏡測(cè)試 服務(wù)內(nèi)容
1、成分分析:透射電鏡可以通過(guò)觀察透射電子的吸收和散射情況,來(lái)確定樣品的成分。利用不同化學(xué)物質(zhì)對(duì)電子的散射和吸收的差異,可以獲得樣品的能譜圖像,進(jìn)而分析樣品中的元素種類和含量。
2、形貌觀察:透射電鏡還可以用來(lái)觀察化學(xué)物質(zhì)的形貌。通過(guò)調(diào)節(jié)電子束的聚焦和透射模式,可以觀察到樣品的表面形貌以及微觀結(jié)構(gòu),如納米顆粒、薄膜厚度等。
3、結(jié)構(gòu)研究:透射電鏡可以用來(lái)研究材料的晶體結(jié)構(gòu)和外形。通過(guò)觀察透射的電子的衍射圖案,可以確定晶體的晶胞參數(shù)、晶面指數(shù)等信息。同時(shí),透射電鏡還可以觀察到有關(guān)晶格缺陷、原子排列和晶界等結(jié)構(gòu)信息。
透射電鏡測(cè)試 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 18907-2013 微束分析 分析電子顯微術(shù) 透射電鏡選區(qū)電子衍射分析方法
GB/T 42208-2022 納米技術(shù) 多相體系中納米顆粒粒徑測(cè)量 透射電鏡圖像法
YS/T 1623-2023 鋁合金時(shí)效析出相的檢驗(yàn) 透射電鏡法
透射電鏡測(cè)試 報(bào)告用途
1、用于銷售,出具檢測(cè)報(bào)告書(shū),讓客戶更加信賴產(chǎn)品,提高產(chǎn)品的知名度。
2、用于產(chǎn)品改善,依據(jù)檢測(cè)陳述改善自己的產(chǎn)品質(zhì)量,提升產(chǎn)品質(zhì)量,降低生產(chǎn)成本。
3、用于產(chǎn)品研制,中科檢測(cè)協(xié)助您完成科研試驗(yàn),縮短研制周期,降低研制成本。
4、科研論文,文獻(xiàn)數(shù)據(jù)運(yùn)用。
透射電鏡測(cè)試 服務(wù)優(yōu)勢(shì)
1、獨(dú)立第三方檢測(cè)品牌,多年分析檢測(cè)經(jīng)驗(yàn),全國(guó)多家分公司;
2、各地多家檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室分之,支持上門采樣、寄樣檢測(cè);
3、檢測(cè)周期短,價(jià)格合理,方案及資質(zhì)齊全;
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