透射電子顯微鏡(縮寫TEM)，簡(jiǎn)稱透射電鏡，是把經(jīng)加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角 散射。

透射電子顯微鏡的基本工作原理是利用電子束穿透物質(zhì)，根據(jù)物質(zhì)對(duì)電子束的散射和透射情況，結(jié)合樣品的化學(xué)成分和結(jié)構(gòu)特點(diǎn)，生成可以被人類觀察的圖像。中科檢測(cè)具備透射電鏡測(cè)試資質(zhì)能力，可以出具CMA、CNAS檢測(cè)報(bào)告。

1、成分分析：透射電鏡可以通過(guò)觀察透射電子的吸收和散射情況，來(lái)確定樣品的成分。利用不同化學(xué)物質(zhì)對(duì)電子的散射和吸收的差異，可以獲得樣品的能譜圖像，進(jìn)而分析樣品中的元素種類和含量。

2、形貌觀察：透射電鏡還可以用來(lái)觀察化學(xué)物質(zhì)的形貌。通過(guò)調(diào)節(jié)電子束的聚焦和透射模式，可以觀察到樣品的表面形貌以及微觀結(jié)構(gòu)，如納米顆粒、薄膜厚度等。

3、結(jié)構(gòu)研究：透射電鏡可以用來(lái)研究材料的晶體結(jié)構(gòu)和外形。通過(guò)觀察透射的電子的衍射圖案，可以確定晶體的晶胞參數(shù)、晶面指數(shù)等信息。同時(shí)，透射電鏡還可以觀察到有關(guān)晶格缺陷、原子排列和晶界等結(jié)構(gòu)信息。

 GB/T 18907-2013 微束分析 分析電子顯微術(shù) 透射電鏡選區(qū)電子衍射分析方法

 GB/T 42208-2022 納米技術(shù) 多相體系中納米顆粒粒徑測(cè)量 透射電鏡圖像法

 YS/T 1623-2023 鋁合金時(shí)效析出相的檢驗(yàn) 透射電鏡法

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